實驗操作影像
波片外差干涉量測
設備組成
實驗套件規格資訊
| 組件 | 規格說明 |
|---|---|
| 干涉儀 | 外差干涉儀 |
| 光源 | 532nm外差光源(旋轉偏振片+QWP法) |
| 待測元件 | 633nm四分之一波片(QWP) |
| 檢測方式 | 鎖相放大器(軟體解調) |
| 量測目標 | 波片相位延遲量 τ 與快軸方向 θ |
規格內容依現有資料呈現,單位與條件尚待技術窗口校對;此處不代表量測精度或性能保證。
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設備組成
| 組件 | 規格說明 |
|---|---|
| 干涉儀 | 外差干涉儀 |
| 光源 | 532nm外差光源(旋轉偏振片+QWP法) |
| 待測元件 | 633nm四分之一波片(QWP) |
| 檢測方式 | 鎖相放大器(軟體解調) |
| 量測目標 | 波片相位延遲量 τ 與快軸方向 θ |
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