LAB 03 / 10 角度、位移與形貌

角度之 Murty 干涉量測

透過旋轉載玻片改變干涉條紋,呈現角度變化與條紋計數的關聯;樣品參數依來源資料列示。

摘要依現有名稱與設備資料整理;實驗表現與量測條件請以實際配置及技術確認為準。

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LAB 03|角度之 Murty 干涉量測

光通光電 LAB3 角度之干涉量測 實驗用光學平台與設備實拍照片

實驗操作影像

角度之 Murty 干涉量測

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設備組成

實驗套件規格資訊

組件規格說明
光源DPSS雷射(532 nm)
干涉儀Murty干涉儀(平行平板式)
實驗樣本載玻片(厚度 0.95 mm,n=1.510)
旋轉控制步進馬達 + Arduino
信號檢測光敏電阻 + 差動放大電路
數據處理Arduino條紋計數器 + MATLAB分析

規格內容依現有資料呈現,單位與條件尚待技術窗口校對;此處不代表量測精度或性能保證。

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