實驗操作影像
位移之正交干涉量測
設備組成
實驗套件規格資訊
| 組件 | 規格說明 |
|---|---|
| 光源 | DPSS雷射(532 nm) |
| 干涉儀 | Fizeau干涉儀(同軸干涉架構) |
| 位移控制 | 步進馬達 + 平移台(導程1.0 mm) |
| 信號檢測 | 正交偏振檢測 + 差動放大電路 |
| 數據處理 | ADC採樣 + Hilbert轉換 + MATLAB分析 |
規格內容依現有資料呈現,單位與條件尚待技術窗口校對;此處不代表量測精度或性能保證。
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